تحدد هذه المواصفة القياسية الدولية عناصرالمتطلبات للقياس الكمي لعينة بحجم الميكرومتر تم تحديدها من خلال تحليل الأشعة السينية الناتجة عن شعاع إلكتروني باستخدام مقياس طيف الطول الموجي المشتت (WDS) المجهز إما بجهاز تحليل المسبار الإكتروني الدقيق أوالمجهر الإ
18-08-2024
23
مقاييس
تحليل الشعاع الميكروني
اخرى
445 ج.م.
ISO22489/2016 Microbeam analysis- Electron probe microanalysis point analysis for bulk specimens- Quantitative using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
جديدة
غير الزامى
71.040.99