المواصفات
المواصفات
»مقاييس
8584 / 2024
تحليل الشعاع الميكرونى - الفحص المجهري الإلكتروني - تحليل حيود الإلكترون في منطقة مختارة باستخدام مجهر إلكتروني للإرسال(ISO 25498 /2018) (متبناه)
تحدد هذه المواصفة طريقة تحليل حيود الإلكترون في منطقة مختارة (SAED) باستخدام المجهر الإلكتروني النافذ (TEM) لتحليل العينات البلورية الرقيقة. تطبق هذه المواصفة لإختبار مساحات الميكروميتر والأقل من الميكروميتر في الحجم. الحد الأدنى لقطر المنطقة المحددة في ا
تاريخ الاعتماد
18-08-2024
عدد الصفحات
55
القطاع
مقاييس
اسم اللحنة الفنية
تحليل الشعاع الميكروني
نوع المواصفة
إرشادات
السعر
910 ج.م.
المراجع الاساسية
ISO25498/2018 Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
حالة المواصفة
تعديل كلي
حالة الالزام
غير الزامى
رقم القرار
التصنيف الدولى (ICS)
71.040.50